Sistema de Análise de Limpeza de Componentes/ Microscópio de Contagem de Partículas para Limpeza VDA19.1 e ISO16232

O sistema de análise de limpeza SinAPC 53M é utilizado para realizar inspeções técnicas de limpeza de partículas com tamanho entre 5 e 1000 μm e acima, em componentes. O sistema de microscopia de contagem de partículas identifica automaticamente partículas metálicas, não metálicas e fibras. Também mede automaticamente comprimento, largura e área, categorizando e contando as partículas por tamanho. Por fim, realiza análises estatísticas de acordo com as normas VDA19.1 ou ISO16232, fornecendo um relatório de teste de limpeza confiável.

O sistema de análise de limpeza SinAPC 53M inclui os seguintes itens:

1. Microscópio óptico de alta profundidade de campo

O microscópio de corpo Olympus BX53M com alta profundidade de campo (detecta partículas ≥5μm) oferece aos clientes soluções mais completas com excelente desempenho de imagem e experiência de operação confortável.

2. Câmera CMOS colorida de alta definição

Câmera CMOS colorida de alta definição, conector USB 3.0, precisão de 0,5 µm/pixel, resolução real de 2,3 milhões de pixels. Alta taxa de quadros: 40 fps; velocidade de captura rápida, sem atrasos.

3. Plataforma de digitalização motorizada de alta precisão

Controle totalmente automático dos eixos X, Y e Z do scanner. Repetibilidade: ≤ 1 µm. Curso: 80 mm * 60 mm. Velocidade máxima: ≥ 100 mm/s. Passo mínimo: ≤ 200 nm.

4. Software profissional de análise de limpeza

Software profissional de análise de limpeza com processo simples e eficiente; tecnologia de junção perfeita, posicionamento repetido de cada partícula, oferecendo visualização completa do mapa, estatísticas de partículas, avaliação automática e exportação de relatórios profissionais com um clique, etc., o que o torna altamente eficiente, preciso e confiável.